X-Strata920表面镀层测厚仪
是一款简洁、坚固和可靠的质量控制XRF台式荧光系统，用于简便、快速的镀层厚度测试和材料分析。
功能特性：
成本低、快速、非破坏的EDXRF分析
可完成至多4层镀层（另加底材）和25个元素的镀层厚度测试，自动修正X射线重叠谱线
卓越的多元素辨识，广泛覆盖元素表上从钛（原子序数22号）到铀（92号）各元素
测厚行业35年知识和经验的积淀
元素范围 Ti22 to U92
镀层和元素数量 4 层镀层 + 底材可同时分析至多25种元素
X-ray激发 50 W (50kV, 1mA) 微聚焦型钨靶X射线管
X-ray探测器 封气（氙气）正比计数器
准直器 单准直器或多准直器（最多6个） ，圆形、正方形和矩形可选
二次滤波器 可配置至多3个滤波器（V、Co和Ni）用于重叠X射线波谱校正
数字信号处理器 4096多通道数字分析器 自动信号处理，带死时间修正及防脉冲累积功能
软件 SmartLink
FP语言：英语、中文（简体和繁体）、法语、德语、西班牙语、日语、韩语、
意大利语、捷克语和俄语
计算机 CPU：Intel Core 2 Duo E7500 2.93GHz
硬盘： 500Gb，内存：2Gb
DVDRW
操作系统：Microsoft WindowsTM
注：由于计算机系统更新快速，实际配置等同或优于上述规格
电源 85~130 或 215~265 伏特，频率范围47Hz到63Hz
工作环境 10°C (50°F) 至 40°C (104°F)，相对湿度98%，无冷凝
可选配置 标准样品台（最大样品高度 33mm / 1.3”）
加深式样品台（最大样品高度 160mm / 6.3”）
XY 程控样品台（样品台移动行程：178mm x 178mm / 7” x 7”）
各样品台Z向移动行程：43mm (1.7”)
均为开槽式样品台
尺寸（宽 x 长 x 高） 标准样品台：407 x 770 x 305 mm (16 x 30.3 x 12")
加深式样品台：407 x 770 x 400 mm (16 x 30.3 x 15.7")
XY 程控样品台：610 x 1037 x 375 mm (24 x 40.8 x 14.8“)
注：以上尺寸均不包含计算机和显示器
重量 97kg（不包含计算机和显示器）
应用于常规金属处理、电子元器件制造和金属测定（如珠宝鉴定）等行业，完成单层或多层厚度测量。
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